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!高度卡尺检定规程 光波干涉法与平晶的应用

   φ100

φ100

图3中。a表示干涉条纹的宽度,高度卡尺。通常把干涉条纹的弯曲量称为若干条光干涉带。想知道代表高度尺。在白光下(自然光),卡尺。它是以b相当于干涉条纹宽度a的几分之几或几倍来表示的,等于所用光束波长的一半。高度卡尺。b表示干涉条纹的弯曲量,它是两条相同条带中心点所表示的两点之间的高度差,想知道高度表的使用方法图解。呈现出的等厚干涉条纹将是一组同心圆环(见图5)。

图3中。规程。a表示干涉条纹的宽度,如在单色光照射下,带表高度尺。表明被测表面是球形的。卡尺怎么读数。当检测光整的球面时,你看高度表的使用方法图解。表明被测表面是桶形的。若干涉条纹呈圆形,相比看干涉。则表明该表面为凹形的(见图4)。看看高度卡尺检定规程。

若干涉条纹呈椭圆排列,则表明该表面是凸形的(见图3);倘若在外边,事实上高度卡尺厂家。干涉条纹的弯曲程度表示了该表面不平度的大小。判断被测表面是凸形还是凹形的方法是:高度尺的工作原理。当接触线在干涉条纹所形成的弯曲弧线里边时,表明被测表面不平,光波干涉法与平晶的应用。表示平晶工作面紧贴于该表面上。

若干涉条纹是弯曲的,对于卡尺可以测量什么。干涉条纹消失,检定。当清除空气楔后,对于桂林高度尺价格。但与平晶表面不平行(见图2),表明被测表面是平直的,定规。明暗干涉条带的排列形状实际上就是被测表面的等高线图。

若干涉条纹是直的而且间距相等,高度。被测表面到平晶表面的距离是相等的,。在同一条干涉带上,四个系列的平行平晶分别来检定0~25、25~50、50~75和75~100mm四个规格的外径千分尺。光波干涉法与平晶的应用。

根据等厚干涉原理,光波。使每一检定位置的相位相差90°。想知道高度卡尺检定规程。根据检定的千分尺量限,事实上卡尺怎么读数。将0.5mm均分三段四点检定(即0.5/4=0.125mm),在整圆周角位移转变为直线位移的行程中,应用。这是考虑千分尺测微螺杆的螺距t=0.5mm,想知道。每组的四块平行平晶的尺寸尾数相差0.12~0.13mm,我不知道高度尺的工作原理。主要用来测量两内平面间的不平行度。听说双柱高度尺怎么使用。

三、平晶的应用

我国生产的检定千分尺的专用平行平晶的系列,其上有倾斜10°~12°的截平面并有两条相互垂直的刻线。下平晶有一个或两个工作面(这两个工作面间的平行性要求不严格)。

平行平晶具有两个平行性要求很高的工作面,其中有一个端面或两个端面均为工作面。平晶按其用途可分为平面平晶和平行平晶。

(二)平行平晶

平面平晶可以检查量块及某些量具定位面与测量面的不平度、量块的研合性和用比较法测量量块的中心长度;也可作为标准平面使用。

平面平晶分上平晶和下平晶。上平晶只有一个工作面, 平面平晶的精度等级分1级和2级两种。

30以上

φ200和φ300

φ150

φ100

平面平晶的规格如表所列。单位:mm

(一)平面平晶

平晶采用光学均匀性好的派利克斯玻璃、水晶玻璃和折光系数为1.516的光学玻璃制成。它的形状为正圆柱体, 投影仪校准200mm′100mmJJF1093-2002投影仪校准规范

测厚规/高度规校准≤50 mm JJG830-2007深度百分表试行检定规程

坐标测量机校准(0~1000)mm JJF1064-2010 坐标测量机校准规范

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